A Survey of Uncertainty in Deep Neural Networks
Auteurs : Jakob Gawlikowski, Cedrique Rovile Njieutcheu Tassi, Mohsin Ali, Jongseok Lee, Matthias Humt, Jianxiang Feng, Anna Kruspe, Rudolph Triebel, Peter Jung, Ribana Roscher, Muhammad Shahzad, Wen Yang, Richard Bamler, Xiao Xiang Zhu
Résumé : Due to their increasing spread, confidence in neural network predictions became more and more important. However, basic neural networks do not deliver certainty estimates or suffer from over or under confidence. Many researchers have been working on understanding and quantifying uncertainty in a neural network's prediction. As a result, different types and sources of uncertainty have been identified and a variety of approaches to measure and quantify uncertainty in neural networks have been proposed. This work gives a comprehensive overview of uncertainty estimation in neural networks, reviews recent advances in the field, highlights current challenges, and identifies potential research opportunities. It is intended to give anyone interested in uncertainty estimation in neural networks a broad overview and introduction, without presupposing prior knowledge in this field. A comprehensive introduction to the most crucial sources of uncertainty is given and their separation into reducible model uncertainty and not reducible data uncertainty is presented. The modeling of these uncertainties based on deterministic neural networks, Bayesian neural networks, ensemble of neural networks, and test-time data augmentation approaches is introduced and different branches of these fields as well as the latest developments are discussed. For a practical application, we discuss different measures of uncertainty, approaches for the calibration of neural networks and give an overview of existing baselines and implementations. Different examples from the wide spectrum of challenges in different fields give an idea of the needs and challenges regarding uncertainties in practical applications. Additionally, the practical limitations of current methods for mission- and safety-critical real world applications are discussed and an outlook on the next steps towards a broader usage of such methods is given.
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